測量輻射粒子的厚型氣體電子倍增探測器THGEM多孔膜板近日在航天科工集團試制成功，其高精度、高密度和在較低工作電壓下獲得高氣體增益的特點，將為我國這類新型氣體探測器的研發(fā)躋身國際先進水平奠定基礎。
該氣體探測器研發(fā)項目是中科院研究生院和高能物理研究所合作的國家自然科學基金課題，其THGEM多孔膜板由中國航天科工集團公司二院699廠承擔試制。該探測器可應用于高能物理核物理(如切倫科夫探測器和熱快中子探測器)研究、X射線和同步輻射應用、宇宙學空間研究(如暗物質(zhì)探索與航天領域用探測器)、等離子體診斷、核安全防護方面的微劑量檢測與利用宇宙線多次散射檢測核材料、生物醫(yī)學成像與對紫外光區(qū)靈敏的日盲探測等方面。
據(jù)介紹，自歐洲核子研究中心科學家發(fā)明氣體電子倍增探測器GEM多孔膜板以來，此類膜板僅在極少數(shù)國外單位制成，在特殊條件下才能少量供應。
(來源：科技日報) |
